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精智达:DRAM晶圆老化测试设备进入验证阶段

时间:2024-08-03 11:48:24 作者:小编 点击:

  近日,精智达在接受机构调研时表示,目前公司DRAM晶圆老化测试设备,已完成技术开发和测试等工作,进入验证阶段;DRAM测试机仍处于持续研发测试阶段。精智达称,该设备针对国内客户的测试流程改善要求进行设计,是具备本土化的测试指令集与测试向量的高端晶圆老化设备。

  关于半导体业务分布,精智达表示,合肥精智达集成电路技术有限公司战略聚焦DRAM测试机及探针卡等精密治具的自主研发,合肥精智达半导体技术有限公司主要负责DRAM老化修复设备的研发、生产及销售工作。

  在探针卡业务方面,精智达披露,半导体存储器件测试设备业务实现收入5,325.67万元,同比增长率为338.38%,主要系报告期内公司探针卡业务取得突破,进入批量交付阶段。

  精智达就探针卡的技术路线介绍,公司探针卡主要采用MEMS工艺,属于符合存储芯片量产测试要求的三温(125°C/98°C/-40°C)15万级别针数的探针卡。

  【IPO一线】精智达拟科创板IPO:募资6亿元投建半导体存储器件设备等项目


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